Шалаөткізгіштердегі ойылып-тесілу
Навигацияға өту
Іздеуге өту
Шалаөткізгіштердегі ойылып-тесілу (орыс. Пробой в полупроводниках) — үлгінің немесе оның бөлігінің қайтымсыз бұзылуына әкелетін, үлгіге берілген потенциалдар айырымының кішкене өзгерістерінде шала-өткізгіш үлгі арқылы жүретін токтың шұғыл өсу қүбылысы. Шалаөткізгіштердегі ойылып-тесілу негізгі механизмі соққылық ионизация және күшті өріс аймағындағы жергілікті қатты қыздырылу ілесе жүретін өте үлкен электр кернеулігіндегі заряд тасымалдаушылардың көшкіндік көбеюі, сондай-ақ тор дислокациясы, ақаулары жанындағы токтың ұлғаюы.[1]
Дереккөздер[өңдеу | қайнарын өңдеу]
- ↑ Қазақ тілі терминдерінің салалық ғылыми түсіндірме сөздігі: Электроника, радиотехника және байланыс. — Алматы: «Мектеп» баспасы, 2007 жыл. ISBN 9965-36-448-6
 | Бұл мақаланы Уикипедия сапа талаптарына лайықты болуы үшін уикилендіру қажет. |
 | Бұл мақалада еш сурет жоқ.
Мақаланы жетілдіру үшін қажетті суретті енгізіп көмек беріңіз. Суретті қосқаннан кейін бұл үлгіні мақаладан аластаңыз.
|
|
Бұл — электроника туралы мақаланың бастамасы. Бұл мақаланы толықтырып, дамыту арқылы, Уикипедияға көмектесе аласыз. |